一、概述

抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度*快）等特點。體積小、重量輕是我廠的**代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。

二、技術(shù)指標

1、環(huán)境溫度：0 ～40℃（液晶屏應(yīng)避免長時日照）

2、相對濕度：30%～70%

3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz

4、外形尺寸：長×寬×高  500mm×300mm×400mm

5、重量：約18Kg

6、輸出功率：0.6KVA

7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

8、測量范圍及輸出電壓選擇：

      介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%

      試品電容容量（Cx）和加載電壓：

      2.5KV檔:≤300nF(300000pF)            3KV檔:≤200nF(200000pF)

     5KV檔:≤76nF(76000pF)                     7.5KV檔:≤34nF(34000pF)

     10KV檔:≤20nF(20000pF)

9、基本測量誤差：

     介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字(加載電流20uA～500mA)

     介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字(加載電流5uA～20uA)

     電容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

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