一、概述

抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試時(shí)間（在國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中速度*快）等特點(diǎn)。體積小、重量輕是我廠的**代抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

二、技術(shù)指標(biāo)

1、環(huán)境溫度：0 ～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）

2、相對(duì)濕度：30%～70%

3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz

4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高  500mm×300mm×400mm

5、重量：約18Kg

6、輸出功率：0.6KVA

7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

8、測(cè)量范圍及輸出電壓選擇：

      介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%

      試品電容容量（Cx）和加載電壓：

      2.5KV檔:≤300nF(300000pF)            3KV檔:≤200nF(200000pF)

     5KV檔:≤76nF(76000pF)                     7.5KV檔:≤34nF(34000pF)

     10KV檔:≤20nF(20000pF)

9、基本測(cè)量誤差：

     介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個(gè)字(加載電流20uA～500mA)

     介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個(gè)字(加載電流5uA～20uA)

     電容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

三、結(jié)構(gòu)

儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV—10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量時(shí)無(wú)需任何外部設(shè)備，接線與QS 電橋相似，但比其方便。

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